Ə.Ş. Abdinov, R. F. Mehdiyev, T. X. HÜseynov



Yüklə 0,99 Mb.
Pdf görüntüsü
səhifə16/40
tarix05.02.2018
ölçüsü0,99 Mb.
#25168
1   ...   12   13   14   15   16   17   18   19   ...   40

 

62 

nun ümumi tutumu 256 kilobayt olub, Azad Çeşidli Dinamik 

Yaddaş  Qurğusu  adlanırdı  (şəkil  3.1).  Toplayıcı  kondensator 

ikilaylı  silisium  nitrid  dielektrikindən  ibarət  idi.  Dielektrik 

silisium  nitrid  silisium  oksid  üzərində  termik  yolla  alınmışdı. 

Nitridin  dielektrik  sabiti  (

5

,

7



=

ε

)  oksidinkindən  (



9

,

3



=

ε



böyük  olduğuna  görə  vahid  sahəyə  düşən  tutum  da  böyük 

olurdu.  Kiçik  sahədə  çoxlu  yüklərin  yığılması,  məlumatın 

sıxlığını  daha  da  artırırdı.  Şəkil  3.1‐də  alüminium  təbəqə  (1), 

çətin əriyən silisid təbəqə (2), polisilisiumlu kondensatorun üst 

qatı  (3),  dioksid  silisiumlu  dielektrik  altlıqdır  (4).  Qurğunun 

çatışmazlığı ondan ibarət idi ki, orada yazılan məlumat elektrik 

mənbəyi  kəsildikdə  yox  olurdu.  Yaddaş  qurğusunun  təkmil‐

ləşdirilməsi  üzərində  işlər  davam  edirdi.  Odur  ki,  müəyyən 

müddətdən  sonra  İntel  firmasının  əməkdaşı  Froman‐Benç‐

kovski 1971‐ci ildə qidalandırıcıdan asılı olmadan pozulmayan 

proqramlı məlumat yaddaş qurğusunu ixtira etdi. 

 

Şəkil 3.1. Dinamik yaddaş qurğusunun sxematik təsviri. 1 – 

alüminium təbəqə, 2 – çətin əriyən silisid, 3 – polisilisiumlu 

kondensatorun üst qatı, 4 – silisium dioksid dielektriki. 

14 mkm 

P

SiO



2

 

Si



3

N

4



 

n



n

+

 





 

63 



İBM  firmasının  əməkdaşı  Dennard  da  mikrosxemlərin 

təkmilləşdirilməsi ilə məşğul olurdu. Mikrosxemlərin layihə‐

ləşdirilməsi üsulunun hazırlaması onun ən böyük xidməti idi. 

Dennard  göstərdi  ki,  tranzistorun  volt‐amper  xarakteristika‐

sını (VAX) pozmadan onun ölçüsünü kiçiltmək mümkündür. 

Bu layihələndirmə üsulu sonradan miqyaslaşdırılma qanunu 

adlandırıldı.  Beləliklə,  gündən‐günə  təkmilləşdirilən  mikro‐

sxemlər  sənayedə  öz  yerini  tapdıqca,  mikroelektronikanın 

inkişafına zəmin yaranırdı. 

 

§3.2. Mikrotexnologiyanın yaranmasının 



ilkin şəraiti və inkişafı 

 

Mikrotexnologiyanın meydana gəlməsi. Sahə tranzistorla‐

rının  ixtira  edilməsi  kiçik  həcmli  elektron  hesablama  maşın‐

larının  (EHM)  yaranmasına  imkan  yaratdı.  Onların  əsasında 

aviasiya  və  kosmos  texnikasında  idarəetmə  kabinəsində  elek‐

tron qurğuları tətbiq edildi. Həmin qurğularda minlərlə müx‐

təlif  növ  radio  elementləri  istifadə  olunurdu  və  onların  sayı 

günbəgün artırdı. Radio elementlərinin sayının artması prakti‐

ki  çətinliklər  törədirdi.  Hətta  çoxlu  sayda  olan  elementlərin 

normal işləməsi sual altında idi. Çünki ən təcrübəli ustalar belə, 

hər  1000  lehimdə  bir‐neçə  səhv  buraxırdılar  və  buraxılan 

səhvlər  hesabına  sxemlərdə  elektrik  boşalmaları  baş  verir, 

sxemlər sıradan çıxırdı. Qüsurların aradan qaldırılması böyük 

vaxt və zəhmət tələb edirdi. Radioqurğuların etibarlılığı və işə 

dözümlülüyü  problem  olaraq  qalırdı.  Uzun  müddətli  araş‐

dırmalardan sonra bu problemlərin həlli üçün sxemlərin hissə‐

hissə  hazırlanaraq  birləşdirilməsi  təklifi  meydana  çıxdı. 

Bununla da mikroelektronikanın təməli qoyuldu. 



 

64 

Gələcək  mikrosxemlər  çap  plataları  üzərində  yığılırdı 

(plata – dielektrik üzərində basılmış nazik mis lövhələrdir) və 

kütləvi  şəkildə  hazırlanırdı.  Tətbiq  edilən  yeganə  yenilik 

naqilin  formasının  dəyişdirilməsi  idi.  Basılmış  plataların 

tətbiqi  miniatürləşmə  problemini  həll  etmirdi,  lakin  mikro‐

sxemlərin  etibarlılığına  təminat  verirdi.  Basılmış  plataların 

texnologiyası  ancaq  passiv  element  olan  naqildən  istifadə 

etməyə  imkan  verirdi.  Ona  görə  də  çaplanmış  platalar 

inteqral mikrosxemlərə çevrilmədi. 

Ötən  əsrin  60‐cı  illərində  tədqiqat  işlərinin  əsas  istiqaməti 

nazik  təbəqəli  aktiv  elementlərin  yaradılmasına  yönəlmişdi. 

Lakin  yüksək  məhsuldarlıqla  işləyə  bilən  tranzistorlar  olma‐

dığından,  hibrid  inteqral  sxemlərdə  (HİS)  –  asılı  vəziyyətdə 

yerləşdirilmiş  aktiv  elementlərdən  istifadə  edilirdi.  Artıq 

inteqral  mikrosxemlər  üçün  yarımkeçirici  materiallardan 

ibarət diskret tranzistorlar və rezistorlar hazırlanırdı, konden‐

sator  əvəzinə  p‐n  keçidin  əks  tutumundan  və  rezistorlar 

əvəzinə isə kristal yarımkeçirici kontaktının omik xassəsindən 

istifadə  edilirdi.  Bütün  bunlardan  sonra  problem  həmin 

elementlərin bir qurğu üzərində yerləşdirilməsi idi. 

Mikroelektronikanın  əsas  inkişaf  texnologiyası.  Mikro‐

elektronikanın  inkişafı  mikrotexnologiyanın  səviyyəsi  ilə 

müəyyən  edilir.  Mikrotexnologiyanın  əsas  sahələrindən  biri 

planar  texnologiyadır. Planar  texnologiyanın vəzifəsi  – müx‐

təlif  elektrik  xarakteristikalı  materiallardan  hazırlanacaq 

elektron sxemləri üçün nazik təbəqələrin şəklini yaratmaqdır. 

Planar  texnologiya  qrup  şəkilli  xarakterə  malikdir.  Yəni  bir 

texnoloji prosesdə müstəvi səthdə bir‐neçə yarımkeçirici sxem 

almaq mümkündür. 

Nazik təbəqələrin alınmasının texnoloji prosesləri. 

 

65 



1)  Epitaksiya  –  prosesində  nazik  təbəqələr  kristal  altlıq 

üzərində  elə  alınır  ki,  onun  strukturu  altlığın  kristal  oriyen‐

tasiyasını  tamamilə  təkrar  edir.  Epitaksiya  texnologiyasının 

üstünlüyü ondan ibarətdir ki, bu üsulla təmiz təbəqə almaqla 

yanaşı,  həm  də  aşqarlama  dərəcəsini  tənzimləmək  mümkün 

olur.  Nazik  təbəqənin  alınmasında  üç  tip  epitaksiya‐  qaz, 

maye və molekulyar üsullar tətbiq edilirdi. 

Qazla  epitaksiya  halında  müəyyən  konsentrasiyalı 

hidrogenlə silisium 4‐xlor qarışığı (SiCl

4

+H



2

), içərisində qrafit 

(şəkil  3.2  (1))  altlıq  üzərində  silisium  təbəqəsi  (şəkil  3.2  (2)) 

yerləşdirilmiş  reaktordan  buraxılır.  Sonra  induksiya  qız‐

dırıcısının (şəkil 3.2 (3)) köməyi ilə qrafit 1000°C‐dən yüksək 

temperaturlarda qızdırılır. Seçilən temperatur, kristal qəfəsin‐

də atomların düzgün oriyentasiyasını və monokristal təbəqə‐

nin  alınmasını  təmin  edir.  Proses  aşağıdakı  dönən  reaksiya 

əsasında baş verir: 

HCl


4

Si

H



2

SiCl


2

4

+



+



 

 

 



Şəkil 3.2. Nazik təbəqə almaq üçün istifadə olunan buxar 

reaktoru.  1  –  qrafit  altlıq,  2  –  silisium  təbəqə,  3  –  in‐

duksiya qızdırıcısı 

 



СиЪл



4

2



 


Yüklə 0,99 Mb.

Dostları ilə paylaş:
1   ...   12   13   14   15   16   17   18   19   ...   40




Verilənlər bazası müəlliflik hüququ ilə müdafiə olunur ©genderi.org 2024
rəhbərliyinə müraciət

    Ana səhifə