Microscopía de efecto túnel Electrónica Física. Ingeniero en Electrónica

Microscopía de efecto túnel

• Electrónica Física. Ingeniero en Electrónica

• Universidad de Valladolid

• Lección complementaria

Microscopio de efecto túnel (Scanning Tunneling Microscopy, STM)

• Primer instrumento que generó imágenes reales de superficies con resolución atómica

• Inventado en 1981 por G. Binnig y H. Rohrer (IBM, Zurich). Nobel en Física 1986.

• Antecesor de toda una familia de técnicas: microscopías de sonda de barrido (SPM).

STM: principio de funcionamiento

• Sonda: punta conductora extremamente afilada que se sitúa muy cerca de la superficie de la muestra. Entre la punta y la muestra se aplica una tensión V.

STM: Modos de funcionamiento