Fotometrik usulda zaharli metallarni aniqlash

I.2.Moddalarni fotometrik aniqlash usullari. Fotometrik usulning
metrologik xarakteristikalari
Moddalarni fotometrik aniqlash usullariga quyidagilar kiradi:
1.Darajalash grafik usuli. Optik zichlik konsentratsiya koordinatalaridagi grafik to`g`ri chiziqli bo`lishi va to`g`ri chiziq koordinata boshidan o`tishi kerak. Odatda darajalash grafigi kamida 3 ta nuqta bo`yicha tuziladi, bu tekshirishning ishonchini aniq bo`lishini ta`minlaydi. Darajalash grafigi usulida modda miqdorini aniqlash 5-8 xil turli konsentratsiyali standart eritmalar seriyasi tayyorlanadi. Bunda tekshirilayotgan eritmaning zichligi darajalash egri chizig`ining o`rtalariga mos kelishi maqsadga muvofiqdir.
2.Qo`shish usuli. Qo`shish usuli taqqoslash usulining bir turidir. Eritma konsentratsiyasini bu usulda aniqlash tekshirilayotgan eritma bilan shu eritmaga aniqlanuvchi moddadan ma`lum miqdorda qo`shilgan eritmaning optik zichliklarini taqqoslashga asoslangan. Begona aralashmalarning halaqit beruvchi ta`sirini yo`qotish bir qator hollarda fotometrik aniqlash usulining to`g`riligini baholash uchun foydalaniladi. Bu usul rangli tekshiriluvchi va standart qo`shilgan eritmalarni fotometrlashda bir xil sharoitlar yaratish imkoniyatini beradi. Shuning uchun bu usuldan elementlarning kam miqdorini begona moddalarning katta miqdorlari ishtirokida aniqlash, tuz eritmalarini tahlil qilishda foydalaniladi. 3.Differensial fotometrik usul –to`q rangli eritmalarni fotometrlashni differensial fotometrik usulida muvaffaqiyat bilan amalga oshirish mumkin. Usulning mohiyati rangli tekshiriluvchi va standart eritmlarning optik zichliklari yutishi nolga teng bo`lgan toza erituvchinikiga emas, balki elementning konsentratsiyasi tekshirilayotgan eritmanikiga yaqin bo`lgan rangli eritmasiga nisbatan o`lchanadi. 4.Ekstraksion fotometrik usullar tahlilda keng foydalaniladi. Bunda ekstrakdagi tekshiriluvchi komponentni fotometrik usulda ham, boshqa har xil usullarda ham aniqlash mumkin. Bu usulda tekshirishning fotometrik usullarida yakunlash juda samarali bo`ladi va tekshirishning zaruruiy tezligi hamda aniqligini ta`minlaydi. Ekstraksion fotometrik usullarda metallarni aniqlash uchun turli xil eksraksion sistemalardan foydalaniladi. Ular aniqlanuvchi komponentning kimyoviy tabiatiga,erigan moddalar tarkibiga va ekstraksiyalash sharoitiga bog`liq ravishda tanlanadi.
Quyida fotometrik usulning metrologik xarakteristikalarini ko`rib o`tamiz.
Aniqlanadigan konsentratsiyaning quyi chegarasi. Eritmadagi molekula uchun ε ning eng katta qiymati 10<sup>5</sup> atrofida bo`lishi kvant-mexanik hisoblashlar orqali ko`rsatilgan. Amalda esa ε ning yuqori qiymati 10<sup>3</sup> -10<sup>4</sup> dan oshmaydi. Optik zichlikning talab qilingan aniqlikda (S<sub>r</sub> <0,33 bu yerda S<sub>r</sub>-nisbiy standart chetlanish)o`lchash mumkin bo`lgan qiymati 0,01 kyuvetaning qalinligi esa 1sm. Bu ma`lum qiymatlardan foydalanib fotometrik usullar bilan o`lchash mummin bo`lgan konsentratsiayning minimal qiymatini baholash mumkin, u 10^-7 M gat eng. Amaliyotda ko`pchilik hollarda konsentratsiyaning 10<sup>-6</sup> – 10<sup>-4</sup> M yoki 10<sup>-1</sup> -10<sup>1</sup> mkg/ml miqdori o`lchaniladi. Shunday qilib, fotometrik usul sezgirligi o`rtacha bo`lgan usullarga kiradi.
O`lchash natijalarining takrorlanishi. Fotometrik aniqlashlarda o`lchash natijalarining takrorlanishiga ta`sir qiluvchi tasodifiy xatoliklar quyidagi sabablarga ko`ra paydo bo`ladi: analiz qilinadigan eritmalarni tayyorlashdagi xatoliklar; aniqlanuvchi komponentni nur yutuvchi birikmaga o`tkazishning to`laqonliligi; begona komponentlarning ta`siri; control tajribaning xatoliklari; kyuvetalar qalinligidagi farq; ularning nur tushuvchi va chiquvchi tomonlarining holati va shuningdek hamma vaqt bir holatda o`rnatish mumkin emasligi bilan bog`liq bo`lgan “kyuveta xatoliklari”; tegishli to`lqin uzunligini o`rnatishdagi xatoliklar; yorug`lik manbai va qavul qiluvchi hamda kuchaytiruvchi sistemalarning nostabil ishlashi hisobiga bo`ladigan xatoliklar.
Optik zichlik va o`tkazish koeffitsientining hamma qiymatlarini bir xil xatolik bilan o`lchash mumkin emas. Yorug`lik yutilishini o`lchashning maqbul oralig`i bor. Bu oraliq shunday tanlanadiki, A o`lchanadigan butun oraliqda o`lchashga qo`yiladigan nisbiy xato uning eng kichik nisbiy xatosini ikki baravaridan ko`p bo`lmasin.
Ertimaning konsentratsiyasini minimal xatolikning ikki baravaridan katta bo`lmagan xatolik bilan o`lchash uchun optik zichlik 0,1-1,0 oraliqda bo`lishi kerak.
Tanlash (selektivlik). Spektrofotometriyada selektivlikni cheklaydigan eng muhim omil molekulyar yutilish polosalarining spektral kengligi (bir necha o`n nanometrga boradigan) va u bilan bog`liq bo`lgan spektral xalaqitlar hisoblanadi. Spektral xalaqitlar eritmadagi komponentlarga tegishli yutilish polosalarini bir-birini qoplashdan iborat bo`lib, o`z navbatida additive sistematik xatolarni keltirib chiqaradi.
Odatda, spektrofotometriyada fizik-kiyoviy xalaqitlar katta rol o`ynamaydi. Bundan tashqari kompleksning yutilish spektri ko`pincha reagentning yutishi bilan belgilanadi. Shuning uchun ham spektrofotomerik usullar spectral nuqtai nazardan selektiv bo`lmagan usullardir. Spektrofotometriyada selektivlik asosan, namuna tayyorlash bosqichida, aniqlanuvchi modda bilan rangli birikma hosil qiluvchi reagentni tanlash yo`li bilan shuningdek naiqlash sharoitlarini (pHni o`zgartirish, halaqit beruvchi elementlarni maskaga berkitish) ta`minlash, komponentlarni ajratish orqali amalga oshiriladi.