International

3.2
test plane 
plane intended to contain the device under test 
3.3
designated test area 
region of the test plane that is assessed for solar simulator classification 
Note 1 to entry: If required, typical geometries can be specified. A specification related to a circular geometry is 
also permitted. 
3.4
data sampling time 
time to take a single data set (irradiance, voltage, current). In the case of simultaneous 
measurement, this is given by the characteristic of the A/D converter. In the case of 
multiplexed systems the data sampling rate is the multiplexing rate. 
Note 1 to entry: In the case of simultaneous measurement, the data sampling time is given by the characteristic of 
the A/D converter. In the case of multiplexed systems the data sampling time is the multiplexing rate. 
The data sampling time is used for evaluation of temporal stability. 
EXAMPLE In the case of non-simultaneous measurement, a multiplexing time of 1 
µ
s would give a sampling rate 
of 1 Mega samples per second; the data sampling time would be 3 
µ
s. 
3.5
data acquisition time 
time to take the entire or a part of the I-V curve of a PV device 
Note 1 to entry: The data acquisition time depends on the number of I-V data points and a delay time that might 
be adjustable. 
Note 2 to entry: In the case of pulsed solar simulators the data acquisition time is related to the measurements 
recorded during a single flash. 
Copyrighted material licensed to University of Toronto by Clarivate Analytics (US) LLC, subscriptions.techstreet.com, downloaded on 2020-09-26 08:51:03 +0000 by University of Toronto User.
No further reproduction or distribution is permitted.

---

IEC 60904-9:2020 © IEC 2020 
– 9 –