52
orqali nazorat qilib borildi. So‗ngra, namunalar mahsus olmos disklar yordamida
10x10
mm
o‗lchamda qirqiladi.
2.3. Optik tolali lazer yordamida mikro- va nanotuzilmali
yarimo’tkazgichlarning xossalarini o‘rganish metodi
Lazer nurlarining mikro- va nanotuzilmali yarimo‘tkazgich xossalariga
ta‘sirini o‗rganish uchun TISL (ya‘ni, toka, indutsirovannogo svetovim luchom)
usuli asosida qurilma tayyorlandi (2.8 – rasm) [72]. Ma‘lumki,
=0,4 1,4 mkm
to‗lqin uzunlikdagi spektral yorug‗lik nurining qo‗llanilishi kremniyning 100
mkm
chuqurlikkacha
bo‗lgan
xossalarini,
jumladan,
uning hajmidagi
rekombinatsiya faolligini o‗rganish imkonini beradi.
Bizning holatda, to‘lqin
uzunligi
=0,88 mkm
bo‘lgan lazerlardan foydalanildi. Lazer nurlari dastasi bilan
mikro- va nanotuzilmalar sirtini yoritish uchun optik tolalardan foydalanildi. Optik
tolalarning diametri
10’400
mkm
oraliqlarni tashkil qiladi.
Bu lazer nurlari
dastasi diametrini
10’400
mkm
oraliqlarda o‗zgartirish imkonini beradi.
Suningdek, qurilmada qizdirish pechi mavjud bo‘lib, u namunalarning yorug‗likka
sezgirligini turli temperaturalarda o‗rganish imkonini beradi. Lazer nurlari manbai
qo‗zg‗almas tayanchga mahkamlangan. Namuna o‗rnatilgan o‗rindiq namuna bilan
birga gorizontal tekislikda x va u o‗qlari bo‗ylab
ilgarilanma va qaytma
53
harakatlanadi. Bu lazer nurlari dastasining mikro- va nanotuzilmalar sirti bo‘ylab
erkin harakat qilish hamda uning xossalarini o‘rganish imkonini beradi.
2.8 – rasmda mikro- va nanotuzilmalarning lazer nurlariga sezgirligini
o‗rganish qurilmaning sxemasi tasvirlangan. Qizdirish pechi kuchlanishi NOM-10
rusumli latr yordamida ta‘minlanadi. Namuna temperaturasi xromel-alyumel
termoparalar yordamida Sh-300 rusumli qayd qilish qurilmasi yordamida nazorat
qilinadi.
Shuningdek, namunalarning lazer nurlariga sezgirligi ham Sh-300 rusumli
qayd qilish va unga paralel ulangan o‗zi yozib boruvchi qurilma yordamida
aniqlanadi. Tadqiqot ob‘ekti termoizolyator (
) bilan o‗ralgan.
Yarimo‗tkazgichli asboblarning elektrofizik xossalarini o‗rganishda qatlam
qarshiligini o‗lchash vazifasi muhim ahamiyatga ega. Uni o‗rganish
uchun bir
necha usullar ishlab chiqilgan, jumladan: a) to‗rt zondli usul, (Valdes, Smits,
Severin); b) sirt qarshiligini o‗lchash usuli, (Xolm, Shumani, Mazur); v) Xoll
effekti asosida qatlam qarshiligini o‗lchash usuli, (Van-der-Pau); g) omik
kontaktlar yordamida qatlam qarshiligini o‗lchash va boshqalar [3 10].
Namunalarining solishtirma qarshiligi 4 zondli hamda Van-der-Pau usullari
yordamida o‗rganildi. Zondlar diametri 0,5
mm
bo‗lgan
volfram simdan
tayyorlangan. Doimiy tok namunalarga IUS-1 qurilmada ta‘minlanadi, kuchlanish
Sh-300 rusumli o‗lchash asbobi yordamida nazorat qilib boriladi. Uning o‗lchash
aniqligi va tezligi tok buyicha 3%, kuchlanish bo‗yicha 5% tashkil qiladi.
Solishtirma qarshilik ( ) quyidagi formula orqali hisoblandi:
Dostları ilə paylaş: