Dərs vəsaiti baki 2019 azərbaycan respublikasi təHSİl naziRLİYİ


Ölçmə sistemlərinin xətasını avtomatik təshihedən test metodu



Yüklə 1,34 Mb.
səhifə26/41
tarix24.12.2023
ölçüsü1,34 Mb.
#159744
növüDərs
1   ...   22   23   24   25   26   27   28   29   ...   41
İntellektual müh ılavə

4.2. Ölçmə sistemlərinin xətasını avtomatik təshihedən test metodu
Test metodu ölçmə sistemlərinin xətasını avtomatik təshihedən əlavə tənliklər üsulları qrupuna aid edilə bilər.
Bu üsulların xüsusiyyəti ondan ibarətdir ki, ölçmə sisteminin xətasının avtomatik korreksiya edilməsi məqsədi ilə onun struktur sxemi və işləmə alqoritmi dəyişdirilərək əsas çevirmə tənliyindən başqa əlavə ölçmə tənlikləri qurulur. Əsas və əlavə tənliklərin birgə həll edilməsi ilə ölçülən kəmiyyətin qiyməti təyin edilir.
Test metodunun digər avtomatik korreksiya metodlarından əsas fərqi ondan ibarətdir ki, ölçülən kəmiyyət əlavə kəmıyyətlərin (testlərin) formalaşdırılmasında iştirak edir [24].
ÖS-in xətalarını təshih etmək üçün test metodundan istifadə etdikdə ölçmə prosesi bir neçə taktdan ibarət olur. Ölçmə vasitəsinin çevirmə funsiyasının tərtibli çoxhədli ilə ifadə edildiyi halda (n+1) sayda tənliklər sistemi alınır:
= + x + +...+
= + x) + +...+
= + x) + +...+
= + x) + +...+ (4.13)

Burada:


ölçülən kəmiyyət;
(x), (x),..., (x) – ölçülən kəmiyyətin iştirakı ilə yaradılan əlavə kəmıyyətlər (testlər);
, ,..., – ölçmədən alınan nəticələr;
, , ,..., – ölçmə vasitəsinin çevirmə funsiyasının əmsallarıdır.
Bu tənliklər sisteminin həlli nəticəsidə ölçülən kəmiyyətin qiymətindən əlavə ölçmə vasitəsinin çevirmə funsiyasının ai parametrləri də məlum olur.
(4.13) tənliklər sisteminin həlli alqoritmi ölçmə vasitəsinin çevirmə funsiyasının tərtibindən (dərəcəsindən) və istifadə olunan testlərin sayından və növündən asılıdır.
Ölçmə vasitəsinin çevirmə funksiyasının (4.13) çoxhədlisi ilə aproksimasiya edilməsi daha çox sayda test tələb etdiyini və ölçmə alqoritminin xeyli mürəkkəbləşdiyini nəzərə alaraq onun parçalarla-xətti aproksimasiyasına üstünlük verilmişdir [24].
Ölçmə vasitəsinin qeyri-xətti = F(x) çevirmə funsiyasının parçalarla-xətti aproksimasiyası zamanı iki testdən – additiv və multiplikativ testdən istifadə olunur.
Additiv test ölçülən kəmiyyət -lə onunla eynicinsli fiziki təbiətə malik olan nümunəvi kəmiyyətin ( toplanması yolu ilə yaradılır:
(x) = x + (4.14)
(x) – additiv test;
– giriş kəmiyyəti ilə eyni fiziki təbiətli nümunəvi kəmiyyətdir.
Multiplikativ test ölçülən kəmiyyətin müəyyən əmsala vurulması yolu ilə formalaşdırılır:
(x) = x (4.15)
(x) – multiplikativ test;
– qiyməti məlum olan çevirmə əmsalıdır.
Bu zaman ölçmə vasitəsinin çevirmə funsiyasının (4.13) ifadələri aşağıda göstərilən şəkildə alınır:
= + x
= + x)
= + x) (4.14)
Ölçmə xətasını test metodu ilə təshihedən ölçmə sisteminin struktur sxemi şək. 4.2-də göstərilmişdir.
Şək. 4.2-də aşağıdaşkı funksional bloklar vardır:
– giriş kəmiyyəti ilə eyni fiziki təbiətli nümunəvi kəmiyyət bloku;
K – miqyas çeviricisi;
cəmləyici blok;
M – rəqəmli yaddaş bloku;

ARÇ – analoq-rəqəm çeviricisi (və yaxud rəqəmli ölçmə vasitəsi);


D – displey;
# - çapetmə qurğusu;
MK – mikrokontrollerdir.
Ölçmə xətası test metodu ilə avtomatik təshiholunan ölçmə prosesi üç mərhələdən ibarətdir.
Birinci mərhələdə mikrokontrollerdən (MK) verilən idarəetmə siqnalı ilə A1 açarı qapanaraq ARÇ-nin girişinə ölçülən x kəmiyyətini qoşur, A2 və A3 açarları isə qapanmamış vəziyyətdə qalır. Giriş kəmiyyəti x-in ölçmə nəticəsi ( ) MK-nın yaddaşına (M) yazılır:
= + x (4.15)
İkinci mərhələdə MK-dan verilən idarəetmə siqnalı ilə A1 və A2 açarları qapanaraq ARÇ-nin girişinə ölçülən x kəmiyyəti ilə onunla eyni fiziki təbiətli nümunəvi kəmiyyətin ( cəmini, yəni addtiv testi (x) = x + qoşur, A3 açarı isə qapanmamış vəziyyətdə qalır. Addtiv testin ölçmə nəticəsi ( ) MK-nın yaddaşına (M) yazılır:
= + (x + (4.16)
Üçüncü mərhələdə MK-dan verilən idarəetmə siqnalı ilə A3 açarı qapanaraq ARÇ-nin girişinə ölçülən x kəmiyyətinin qiyməti məlum olan əmsala hasilini, yəni multiplikativ testi (x) = x qoşur, A1 və A2 açarları isə qapanmamış vəziyyətdə qalır. Multiplikativ testin ölçmə nəticəsi ( ) MK-nın yaddaşına (M) yazılır:
= + x (4.17)
Mikrokontrollerdə (4.15), (4.16) və (4.17) tənilklərini birgə həll etməklə korreksiyaedilmiş ölçmə nəticəsi (Zk) alınır:
= = (4.18)
(4.18) ifadəsində ÖV-nin çevirmə funsiyasının , parametrlərinin iştirak etməməsi ölçülən kəmiyyətin təshihaedilmiş nəticəsində additiv və multivlikativ xətanın olmadığını göstərir.
Xətaları təshihedən test metodunda ölçmə vasitəsinin çevirmə funksiyasının parçalarla-xətti aproksimasiyası intervalının sərhədlərini multiplikativ və additiv testin x x + qiyməti təyin edir. və -nın sabit qiymətində ölçülən kəmiyyətin qiymətinin dəyişməsi ilə aproksimasiya intervalının sərhədləri də ölçmə dipazonu boyunca onunla birlikdə öz yerini dəyişir.
ÖV-nin çevirmə funksiyasının qeyri-xəttiliyindən yaranan xətanın təshih dərəcəsi x x + qiymətlərinin x- in qiymətinə nə dərəcədə yaxın ( , x ) olmasından asılıdır.
Dəqiq və stabil xarakteristikalı additiv və multiplikativ testlərin hazırlanması asan olan elektrik və qeyri-elektrik kəmiyyətlərinin ölçmə vasitələrinin xətalarını təshih etmək üçün test metodundan istifadə edilməsi daha əlverişli sayılır.
Ölçmə vasitəsinin xətalarını avtomatik təshihedən test metodunun bir neçə variantı yaradılmışdır və bucaq yerdəyişmələrinin, kütlənin, təzyiqin və elektrik kəmiyyətlərinin ölçülməsində istifadə olunur.



Yüklə 1,34 Mb.

Dostları ilə paylaş:
1   ...   22   23   24   25   26   27   28   29   ...   41




Verilənlər bazası müəlliflik hüququ ilə müdafiə olunur ©genderi.org 2024
rəhbərliyinə müraciət

    Ana səhifə