Skanedici zond mikroskopiyasında təhriflər
Bunun Şəkil 4-16 təsvir olunmuş pillələrin şəkilləri üzərində
görmək olar. Zond səthin xüsusiyyətləri ilə qarşılıqlı təsirə
başladıqdan sonra, kənarları iti olmayan dairəvi forma çəkir.
Şəkil 4-14. Mexaniki kəsilmiş naqilin sonunda mikroskopik
formalar STM atom səviyyəsində şəkillərinin
alınması üçün effektivdir. Nümunə səthinə yaxın
yerlərdəki elektronlar tunelləşməsində iştirak
edirlər
Şəkil 4-15. SZM zondunun nümunə ilə kontaktda olan nöqtələri
zondun həndəsi formasından və nümunə səthinin
həndəsi xüsusiyyətlərinin təsvirindən asılı olur
Əgər piramida formalı zond istifadə olunursa, zondun buca-
ğına bərabər pillə alınacaq. Beləliklə belə xüsusiyyətlərin təs-
virləri üçün zondun tərəflərinin nisbəti kritik olmalıdır. Tərəf-
lərin nisbəti böyük olan zond ən kiçik təhriflər edəcəkdir.
97
“Nanotexnologiyadan laboratoriya işləri”. Dərs vəsaiti
Şəkil 4-16. Pillələrin təsvirləri zamanı zondun həndəsi forması
kritik olmalıdır. Dairəvi formalı zondların yaratdıq-
ları təsvirlər dairəvi forma kimi alınır(a). Tərəflərin
nisbəti kiçik olan zond meyilli pillə yaradır (b).
Nümunə səthinin daha aydın şəkillərin alınması üçün
tərəflərin nisbəti böyük olan zondlar tələb olunur (v)
Nümunə səthindəki çuxurlar kimi dərinliklərindəki
xüsusiyyətlərin təsvirlərin aşkarlanması zamanı, bu daha vacib
tələbdir. Tərəflərin nisbəti kiçik olan zondlar bu xüsusiyyətləri
tam təsvir edə bilməyəcəkdir, bu Şəkil 4-17-də göstərilmişdir.
Şəkil 4-17. Tərəflərin nisbəti kiçik olan zondlar çuxurların dibinə
çata bilmir (a). Bu xüsusiyyət yalnız uzun və nazik
zondlar vasitəsi ilə təsvir oluna bilər (b)
b) Qabarıq tipli xüsusiyyətlərin təhrifləri
Müstəvi səthlərin kiçik qabarıq təsvirləri zamanı (məsələn
kvant nöqtələr) iti uclu zondların şəkillərin eninə alınmasına
98
Skanedici zond mikroskopiyasında təhriflər
ciddi təsir edir. Şəkil 4-18 göstərildiyi kimi böyük radiuslu
zondun mərkəzi oxu səthə toxunduqdan sonra belə xüsusiyyət-
lərlə qarşılıqlı təsir əmələ gəlməyə başlayır. Alınmış şəkillər
real nümunə səthindən fərqli olaraq kifayət qədər enli alınacaq-
dır. Bu zaman hündürlüyün ölçülməsi zondun həndəsi forma-
sından asılı olmayaraq düz olacaq. Bu tip dərin və ya kəskin
xüsusiyyətləri olan nümunələr üçün şəkillərinin alınmasında
istifadə olunan zondlar iti uclu olmalıdır, uzun olması isə vacib
deyil.
Şəkil 4-18. Səth üzərindəki çox kiçik detalların şəkillərinin çəkil-
məsi zamanı real nümunədən fərqli küt zondlar daha
enli təsvirlərin alınmasına gətirib çıxarır(a). İti uclu
zondların istifadə etdikdə şəkillərin eninin real detal-
ların eni daha uyğun gəlir(b). Hər iki halda hündür-
lüyün xüsusiyyətləri dəqiq alınır
v) Zondun çirklənməsi
Əgər SZM zondun ucu çirklənibdirsə, alınmış şəkillərin
təhrif olacaqdır. Bəzi hallarda çirklənmə skanetməni yaxşılaş-
dıra bilər. Məsələn STM vasitəsi ilə atom səviyyəsində ayırd-
etmə ilə qrafitin təsvirləri zamanı zond səthdən qrafiti seçə
bilər. Bu halda elektronların tunelləşməsi qrafitin atomları
(karbon) ilə zond arasında və nümunə səthində baş verir.
q) Zondun korlanması
Bəzən bərk nümunələrin şəkillərinin alınması prosesində və
ya zondla ehtiyatlı davranmadıqda zondun ucu iki hissəyə
99
“Nanotexnologiyadan laboratoriya işləri”. Dərs vəsaiti
ayrıla bilər(Şəkil 4-19). Belə zondla nümunə səthinin şəkli
çəkilən zaman, hər bir səth xüsusiyyətinin təsvirinin iki dəfə
alınması müşahidə olunur.
Şəkil 4-19. Zondun ucunun iki yerə ayrılması ilə nümunə səthində
xüsusiyyətlərin təsvirləri iki dəfə alır, yeni şəkillərin
alınmasında zondun hər iki ucu növbələşərək iştirak
edir
d) Zond və nümunə arasındakı bucaq
Əgər zond nümunə səthində 90
0
-dən dərəcədən fərqli bucaq
altında yerləşərsə, alınmış şəkillərdə təhriflər olacaqdır. Hər
tərəfi eyni bucağa malik xüsusiyyətlərin təsvirləri zamanı, bir
tərəfi o biri tərəfdən daha fərqli görünəcəkdir.
Şəkil 4-20. Zond və nümunə arasında bucağa görə şəkildə
əmələ gələ təhriflər
e) SZM-də səthin şəkillərinə görə səthin formasının
bərpası üsulları
Bütün hallarda zondun işçi hissəsinin ölçülərinin xarakte-
100
Skanedici zond mikroskopiyasında təhriflər
rindən asılı olaraq qeyri hamar səthlərin skan edilməsi zamanı
SZM şəkillərində təhriflər müşahidə olunur. Faktiki olaraq
SZM-də şəkillərin alınması tədqiq olunan nümunə səthi və
zond təsirinin formalaşmasıdır.
Xüsusi halda bu problemin həlli üçün konkret zond [17, 18]
formalarını nəzərə almaqla SZM şəkillərinin bərpa olunması,
SZM nəticələrinin kompüter vasitəsi ilə işlənməsinə əsaslanan
müasir üsullardan istifadə edilir. Səthin bərpa olunmasının ən
effektiv üsulu, ədədi dekonvolyasiya üsulu olub, test quruluş-
ların(səthin relyefi yaxşı məlum olan) skan edilməsi zamanı
nəticədə alınan zond formalarının istifadə olunmasına əsaslanır.
Zondların işçi hissələrinin nizamlanması və formalarının
təyin olunması üçün səthin relyefinin parametrlərinin məlum
xüsusi testlərindən istifadə olunur. Ən çox yayılmış test
strukturlarının növləri və atom-qüvvə mikroskopu vasitəsilə
alınmış şəkillərin xarakteristikaları Şəkil 4-21 və Şəkil 4-22-
də göstərilmişdir. İti uclu nizamlayıcı qəfəs növləri (AQM-da
çevirilmiş massiv) zondun ucunu yaxşı təsvir etməyə imkan
verir, eyni zamanda düzbucaqlı qəfəs səthin kənardan forması-
nı bərpa etməyə kömək edir. Qəfəslərin skanedilməsi ilə veri-
lənlərinin nəticələrini birləşdirərək zondların işçi hissələrinin
formasını tamamilə bərpa etmək olar.
j) NanoEducator cihazı üçün zondların hazırlanması
qurğusu
NanoEductor skanedici zond mikroskopunda AQM və
STM üçün volfram naqilindən hazırlanmış bir ucu itilənmiş
universal zondlar istifadə edilir.
Elektrokimyəvi itilənmə üsulu ilə SZM zondlarının yenilə-
rinin və ucu küt olanlarının bərpası üçün istifadə olunan iynələ-
rin hazırlanması qurğusu (İHQ) Şəkil 4-23-də göstərilmişdir.
İHQ-də metal həlqə qələvi məhlula salınır və həlqədə
qələvi məhluldan pərdə əmələ gəlir Volfram naqilin ucu bu
həlqəyə dxil edilir və bura elektrik cərəyanı tətbiq edilir. Bu
zaman naqilin elektrokimyəvi itilənməsi prosesi baş verir və
101