Dərs vəsaiti Laboratoriya işi



Yüklə 210,83 Kb.
Pdf görüntüsü
səhifə6/7
tarix18.04.2018
ölçüsü210,83 Kb.
#39261
növüDərs
1   2   3   4   5   6   7

Skanedici zond mikroskopiyasında təhriflər 

 

Bunun  Şəkil 4-16 təsvir olunmuş pillələrin  şəkilləri üzərində 



görmək olar. Zond səthin xüsusiyyətləri ilə qarşılıqlı  təsirə 

başladıqdan sonra, kənarları iti olmayan dairəvi forma çəkir.  

 

Şəkil 4-14.  Mexaniki kəsilmiş naqilin sonunda mikroskopik 

formalar STM atom səviyyəsində  şəkillərinin 

alınması üçün effektivdir. Nümunə  səthinə yaxın 

yerlərdəki elektronlar tunelləşməsində  iştirak 

edirlər 

 

Şəkil 4-15. SZM zondunun nümunə ilə kontaktda olan nöqtələri 



zondun həndəsi formasından və nümunə  səthinin 

həndəsi xüsusiyyətlərinin təsvirindən asılı olur   

 

Əgər piramida formalı zond istifadə olunursa, zondun buca-



ğına bərabər pillə alınacaq. Beləliklə belə xüsusiyyətlərin təs-

virləri üçün zondun tərəflərinin nisbəti kritik olmalıdır. Tərəf-

lərin nisbəti böyük olan zond ən kiçik təhriflər edəcəkdir.  

 

97




“Nanotexnologiyadan laboratoriya  işləri”. Dərs vəsaiti  

 

 



Şəkil 4-16.  Pillələrin təsvirləri zamanı zondun həndəsi forması 

kritik  olmalıdır. Dairəvi formalı zondların yaratdıq-

ları  təsvirlər dairəvi forma kimi alınır(a). Tərəflərin 

nisbəti kiçik olan zond meyilli pillə yaradır (b).  

Nümunə  səthinin daha aydın  şəkillərin alınması üçün 

tərəflərin nisbəti böyük olan zondlar tələb olunur (v)

 

 

Nümunə  səthindəki çuxurlar kimi dərinliklərindəki 



xüsusiyyətlərin təsvirlərin aşkarlanması zamanı, bu daha vacib 

tələbdir. Tərəflərin nisbəti kiçik olan zondlar bu xüsusiyyətləri 

tam təsvir edə bilməyəcəkdir,  bu Şəkil 4-17-də göstərilmişdir. 

 

 



Şəkil 4-17.  Tərəflərin nisbəti kiçik olan zondlar çuxurların dibinə 

çata bilmir (a). Bu xüsusiyyət yalnız uzun və nazik 

zondlar vasitəsi ilə təsvir oluna bilər (b) 

 

b) Qabarıq tipli xüsusiyyətlərin təhrifləri 

       Müstəvi səthlərin kiçik qabarıq təsvirləri zamanı (məsələn 

kvant nöqtələr) iti uclu zondların  şəkillərin eninə alınmasına 

 

98




Skanedici zond mikroskopiyasında təhriflər 

 

ciddi təsir edir. Şəkil 4-18 göstərildiyi kimi böyük radiuslu 



zondun mərkəzi oxu səthə toxunduqdan sonra belə xüsusiyyət-

lərlə qarşılıqlı  təsir  əmələ  gəlməyə başlayır. Alınmış  şəkillər 

real nümunə səthindən fərqli olaraq kifayət qədər enli alınacaq-

dır. Bu zaman hündürlüyün ölçülməsi zondun həndəsi forma-

sından asılı olmayaraq düz olacaq. Bu tip dərin və ya kəskin 

xüsusiyyətləri olan nümunələr üçün şəkillərinin alınmasında 

istifadə olunan zondlar iti uclu olmalıdır, uzun olması isə vacib 

deyil.  


 

 

Şəkil 4-18. Səth üzərindəki çox kiçik detalların  şəkillərinin çəkil-



məsi zamanı real nümunədən fərqli küt zondlar daha 

enli təsvirlərin alınmasına gətirib çıxarır(a).  İti uclu 

zondların istifadə etdikdə  şəkillərin eninin real detal-

ların eni daha uyğun gəlir(b). Hər iki halda hündür-

lüyün xüsusiyyətləri dəqiq alınır 

 

v) Zondun çirklənməsi 

Əgər SZM zondun ucu çirklənibdirsə, alınmış  şəkillərin 

təhrif olacaqdır. Bəzi hallarda çirklənmə skanetməni yaxşılaş-

dıra bilər. Məsələn STM vasitəsi ilə atom səviyyəsində ayırd-

etmə ilə qrafitin təsvirləri zamanı zond səthdən qrafiti seçə 

bilər. Bu halda elektronların tunelləşməsi qrafitin atomları 

(karbon) ilə zond arasında və nümunə səthində baş verir.  

   q) Zondun korlanması 

Bəzən bərk nümunələrin şəkillərinin alınması prosesində və 

ya zondla ehtiyatlı davranmadıqda zondun ucu iki hissəyə 

 

99



“Nanotexnologiyadan laboratoriya  işləri”. Dərs vəsaiti  

 

ayrıla bilər(Şəkil 4-19). Belə zondla nümunə  səthinin  şəkli 



çəkilən zaman, hər bir səth xüsusiyyətinin təsvirinin iki dəfə  

alınması müşahidə olunur. 

 

Şəkil 4-19.   Zondun ucunun iki yerə ayrılması ilə nümunə səthində 

xüsusiyyətlərin təsvirləri iki dəfə alır,  yeni şəkillərin 

alınmasında zondun hər iki ucu növbələşərək iştirak 

edir  

 

d) Zond və nümunə arasındakı bucaq 

Əgər zond nümunə səthində 90

0

-dən dərəcədən fərqli bucaq 



altında yerləşərsə, alınmış  şəkillərdə  təhriflər olacaqdır. Hər 

tərəfi eyni bucağa malik xüsusiyyətlərin təsvirləri zamanı,  bir 

tərəfi o biri tərəfdən daha fərqli görünəcəkdir.  

 

 Şəkil 4-20. Zond və nümunə arasında bucağa görə  şəkildə 



əmələ gələ təhriflər 

 

     e) SZM-də  səthin  şəkillərinə görə  səthin formasının 



bərpası üsulları  

      Bütün  hallarda  zondun  işçi hissəsinin ölçülərinin xarakte-

 

100



Skanedici zond mikroskopiyasında təhriflər 

 

rindən asılı olaraq qeyri hamar səthlərin skan edilməsi zamanı 



SZM  şəkillərində  təhriflər müşahidə olunur. Faktiki olaraq 

SZM-də  şəkillərin alınması  tədqiq olunan nümunə  səthi və 

zond  təsirinin formalaşmasıdır.   

Xüsusi halda bu problemin həlli üçün konkret zond [17, 18]  

formalarını  nəzərə almaqla SZM şəkillərinin bərpa olunması, 

SZM nəticələrinin kompüter vasitəsi ilə işlənməsinə əsaslanan 

müasir üsullardan istifadə edilir. Səthin bərpa olunmasının  ən 

effektiv üsulu, ədədi dekonvolyasiya üsulu olub, test quruluş-

ların(səthin relyefi yaxşı  məlum olan) skan edilməsi zamanı 

nəticədə alınan zond formalarının istifadə olunmasına əsaslanır.  

Zondların işçi hissələrinin nizamlanması  və formalarının 

təyin olunması üçün səthin relyefinin parametrlərinin məlum 

xüsusi testlərindən istifadə olunur. Ən çox yayılmış test 

strukturlarının növləri və atom-qüvvə mikroskopu vasitəsilə 

alınmış  şəkillərin xarakteristikaları    Şəkil 4-21 və  Şəkil 4-22- 

də göstərilmişdir.  İti uclu nizamlayıcı  qəfəs növləri (AQM-da 

çevirilmiş massiv) zondun ucunu yaxşı  təsvir etməyə imkan 

verir, eyni zamanda düzbucaqlı qəfəs səthin kənardan forması-

nı bərpa etməyə kömək edir. Qəfəslərin skanedilməsi ilə veri-

lənlərinin nəticələrini birləşdirərək zondların işçi hissələrinin 

formasını tamamilə bərpa etmək olar.  

j) NanoEducator cihazı üçün zondların hazırlanması 

qurğusu 

NanoEductor skanedici zond mikroskopunda AQM və 

STM üçün volfram naqilindən hazırlanmış bir ucu itilənmiş 

universal zondlar istifadə edilir.  

Elektrokimyəvi itilənmə üsulu ilə SZM zondlarının yenilə-

rinin və ucu küt olanlarının bərpası üçün istifadə olunan iynələ-

rin hazırlanması qurğusu (İHQ) Şəkil 4-23-də göstərilmişdir.  

İHQ-də metal həlqə  qələvi məhlula salınır və  həlqədə 

qələvi məhluldan pərdə  əmələ  gəlir Volfram naqilin ucu bu 

həlqəyə dxil edilir və    bura  elektrik  cərəyanı  tətbiq edilir. Bu 

zaman naqilin elektrokimyəvi itilənməsi prosesi baş verir və 

 

101



Yüklə 210,83 Kb.

Dostları ilə paylaş:
1   2   3   4   5   6   7




Verilənlər bazası müəlliflik hüququ ilə müdafiə olunur ©genderi.org 2024
rəhbərliyinə müraciət

    Ana səhifə