232
o‘tishida (bu muhitlarning optik xossalari turlicha bo‘lganligi sababli) o‘z
yo‘nalishini o‘zgartirish xususiyatlaridan foydalaniladi. Agar muhitlardan birining
optik xossasi o‘zgarmasdan qolsa (etalon muhit), ikkinchisining xossasi esa
suyuqlikdagi
komponentlarning
o‘zgarishi
bo‘yicha
bu
komponentning
konsentrasiyasini o‘lchash mumkin.
YOrug‘lik nurining chetga chiqishini (sinish ko‘rsatkichini) aniqlashning bir
nechta usuli mavjud bo‘lib, ulardan asosiylari spektrometrik va to‘la ichki qaytarish
usullaridir.
Spektrometrik usul
yorug‘lik oqimining nazorat qilinayotgan shisha
prizmalarda eng kam chetga chiqish burchagi bo‘yicha yorug‘likning sinish
ko‘rsatkichini aniqlashga asoslangan.
6.26- rasmda avtomatik refraktometrning prinsipial sxemasi ko‘rsatilgan
bo‘lib, unda tahlil qilinayotgan eritma ikki kyuvet 4 va 6 dan iborat differensial
kyuvet orqali o‘tkaziladi. Har ikki kyuvet umumiy devorcha 5 ga ega prizmadan
iborat. Kyuvet 4 orqali tahlil qilinayotgan eritma o‘tkaziladi, kyuvet 6 da esa etalon
suyuqlik turadi.
YOrug‘lik manba 1 dan
linza
2
va
diafragma
3
yordamida yorug‘lik polosasi a
ga
o‘zgaradi,
u
ikkala
kyuvetdan
o‘tib,
qo‘shalok
fotorezistor 7 ga tushadi. Agar
4
va
6
kyuvetlardagi
suyuqliklarning optik xossalari
bir xil bo‘lsa, chiqayotgan yorug‘lik oqim b ning yo‘nalishi yorug‘lik oqimi a ning
yo‘nalishi bilan bir xil bo‘ladi. Bu holda har ikki fotorezistor bir xilda yoritilgan va
ularning qarshiliklari teng bo‘ladi.
Tahlil qilinayotgan suyuqlikning optik xossalari o‘zgarganida yorug‘lik oqimi
o‘z yo‘nalishini ikki marta o‘zgartiradi: etalon kyuvet 6 ga kirishda va undan
chiqishda. Nurning
v
yo‘nalishda siljishi natijasida pastki rezistorning yoritilganligi
6.26 –
расм
.
Dostları ilə paylaş: