| 7.4.2.2 Nümunələrin hazırlanması
Sınaq üçün istifadə olunacaq lövhələr təsadüfi qaydada seçilir. Tələb olunan lövhələrin sayı müəyyən edilmiş vurulma tələblərindən və ya sınaqdan keçirilən lövhələrin ölçüsündən asılıdır (uyğun olduqda, maksimum ölçülü lövhələr), bax 7.4.2.4.
7.4.2.3 Ölçü alətləri
7.4.2.3.1 Xüsusi material və məkan ilə təchiz edilmiş, lövhələrin şaquli vəziyyətdə yerləşdirildiyi Çərçivə sistemi.
7.4.2.3.2 Lövhələrin üst səthində tam islanmanı təmin edən 1 l/(m2.min) hasilata malik Su çiləyici aparat.
7.4.2.3.3 Sınaqdan keçirilən elementlərin səthində müəyyən olunmuş temperaturu saxlamağa qadir Qızdırıcı cihaz.
Qızdırıcı cihaz sınaq qurğusunun maksimum temperaturun gözlənildiyi mərkəz yerində, başqa sözlə, qızdırıcı cihazın aşağısına ən yaxın məsafədə yerləşdirilmiş temperatur sensoru tərəfindən tənzimlənən gücə malikdir.
Bu hissədəki temperatur (60 ± 5) °C dərəcəsində tənzimlənməli və qızdırıldıqdan sonra 15 dəqiqə ərzində əldə olunmalıdır.
İstənilən zaman sınaq qurğusunun tam uducu hissəsinin mərkəzdə olan temperatur və künclərə yaxın hissələrdə olan temperatur arasında fərq 15 °C-ni keçməməlidir.
7.4.2.3.4 Sınaq prosedurunda müəyyən edildiyi kimi sınaq şərtlərini dəyişməyə imkan verən Nəzarət sistemi.
Dostları ilə paylaş: |
