Magistrantların XV Respublika Elmi konfransı, 14-15 may 2015-ci il
104
v
min
v(t) v
max ,
(5)
U(x,t) u
max ,
(6)
şərtlərini ödəyən və
İ(v)=
(x)
)
2
(7)
funksionalına minimum qiymət verən u(x,t) ,v(t) funksiyalarının tapılması məsələsinə baxılır,
burada,k(x),
,c(x), (x),g(t) verilmiş
funksiyalar,x
c,
x
r,
T,v
min
,v
max
,u
max
verilmiş ədədlərdir.
Məsələnin ədədi həllinə cərimə funksionalları üsulu tətbiq olunmuşdur. Bunun üçün
k
= İ(v)+A
k
;0})
2
(8)
funksionalı daxil edilmiş və (1)-(6) şərtləri daxilində onun qradiyentinin analitik ifadəsi
çıxarılmışdır,burada A
k,
şərtini ödəyən müsbət ədədlərdir.(8) funksionalının ən kiçik
qiymətinin tapılmasına qradiyent üsulu,məsələnin ədədi realizasiyasına isə sonlu fərqlər üsulu tətbiq
olunur.Qeyri-müntəzəm şəbəkədə düz və qoşma sərhəd məsələləri ikilaylı qeyri-aşkar sxemlərlə
aproksimasiya edilir,alınan xətti cəbri tənliklər sisteminin həllinə hər bir iterasiyada qovma üsulu tətbiq
olunmuşdur.
Təklif olunmuş alqoritm model məsələyə tətbiq olunmuş və ədədi eksperimentlər aparılmışdır.
DĠSKRET ELEKTRON QURĞULARININ DĠAQNOSTĠKASI ÜÇÜN
MĠKROKONTROLLERĠN ĠġLƏNMƏSĠ
Şəmiyev S.H.
Sumqayıt Dövlət Univeristeti
Diskret elektron qurğularının diaqnostika vasitələrinin təhlili.
Müasir elektron qurğularının istehsalında diaqnostika obyekti kimi müxtəlif inteqrasiya
mərtəbəsinə malik inteqral sxemlər(İS), yarımkeçirici yaddaş qurğuları,böyük və ifrat böyük inteqral
sxemlər(BİS və İBİS), eləcədə onların istifadəsi ilə yerinə yetirilmiş sxemlər, düyünlər, qurğular, və
bloklar nəzərdə tutulur.
Müasir dövürdə istehsal olunan elektron qurğularının böyük əksəriyyətini diskret İS-lər təşgil edir.
Bir nəzarət obyekti kimi, elektron qurğularının texniki vəziyyətinin müəyyən edilməsinin əsas
üsulu test diaqnostikasıdır ki, buraya funksional nəzarətin bütün növləri daxildir.
Test proqramı-elektron qurğusunun yoxlanılmasını təmin edən giriş dəstəsi və etalon reaksiyalar
toplusu müəyyən oluna bilər.Burada giriş dəstəsi dedikdə, yoxlanılan qurğunun giriş kontaktlarındakı
siqnallrın verilmiş zaman intervalı daxilindəki məntiqi vəziyyətlərinin (0 və1) toplusudur.
Bu toplunun məqsədi məntiqi elementlərin və onlar arasındakı birləşmələrin yoxlanmasıdır.
Etalon reaksiya-verilmiş nəzarət müddəti ərzində işə yararlı elektron qurğunun cıxış siqnallarının
məntiqi vəziyyətlərini göstərir.
Elektron qurğusunun ―yararlıdır-yararsızdır‖ prinsipi üzrə yoxlayan test yoxlayıcı , məntiqi və
struktur elementlərinin nasazlıqlarının xarakterini təyin edən test isə diaqnostik test adlanır.
Funksional nəzarətin həyata keçirilməsi çox sayda səbəblərdən asılı olaraq , giriş təsirlərinin tələb
olunan reaksiyaların generasiyası və çıxış cavablarının analizinin müxtəlif üsullarının kombinasiyalarına
əsaslanır.
Giriş
tə
sirl
ərinin
generasiya
üsulu
Əl üsulu
Proqram-
la təsirlər
Əl üsulu
Çox
mərtəbəli
müqayisə
Ç
ıxı
ş
re
aks
iyala
rını
n
ana
liz
i üs
ul
lar
ı