Xələfli A. A



Yüklə 2,8 Kb.
Pdf görüntüsü
səhifə53/100
tarix06.02.2018
ölçüsü2,8 Kb.
#26718
1   ...   49   50   51   52   53   54   55   56   ...   100

 
179 
Bir qidalandırıçı xətdən ibarət olan AMNB qurğusu geniş istifadə 
olunur.  Bundan  başqa  iki  qidalandırıcı  xətdən  ibarət  olan  qurğudan 
da AA

 MDNB

B  istifadə  olunur  (şəkil 59a,b  bax). Bəzi hallarda  üç 
qidalandırıçı xətdən istifadə  edirlər  AA

  A
’’
  MNBB

  B
’’
,  bu  da  bizə 
imkan verir ki, geoloji kəsilişi üç dərinlikdə öyrənək.  Bu isə həmin 
üsulun  geoloji  informasiyalı  olmasını  təmin  edir.  Qurğuların 
ölçulərini  təcrübi  yolla  edirlər.  Bu  geoloji  kəsilişin  quruluşu  haqda 
tam məlumat əldə edilir. Geoloji kəsiliş haqda məlumat  
 
               
 
Şək.59. Müxtəlif kəsilişlər uzrə iki xətt uzrə qidalanan simmetrik qurğu 
ilə  alınan  qrafik.  a)  kristallik  süxurun  əyilmiş  hissəsi  uzərində.  b)  səthə 
yaxın  kiçik  müqavimətli  süxur  uzərində;  v)  filiz  yatağı  uzərində;  q) 
müxtəlif  müqavimətli  süxurların  sərhədi  uzərində;  1-qum,  2-konqlemerat, 
3-şistlər, 4-qranitlər, 5-dioritlər, 6-filiz yatağı. 
 
almadıqda qurğunun qidalandırıcı elektrodları arasında ölçülər nəzəri 
hesablanılır. Təçrubədə müəyyənləşdirilib ki, AB elektrodları  
arasındakı  məsafə  hədəfin  fərz  olunan  dərinliyindən  10-20  dəfə 
aralıda  yerləşdirilməlidir  (AB"=(10-20)H  və  qəbuledici  elektrodlar 
MM AB-dən 3-10 dəfə az olmalıdır. 


 
180 
Hər müşahidə məntəqəsində MN xətti uzrə 

U ölçulür, AB xətti  
üzrə isə  cərəyan şiddəti  İ ölçülür və  xususi müqavimət 

= K

U/İ 
təyin olunur. Qiymətlərinə görə profil boyu fərz olunan müqavimətin 
əyrisi  qurulur.  Anomaliyanın  mənşəyini  cox  hallarda  təyin  etmək 
mümküm  olmur,  çünki  oxşar  qrafikləri  müxtəlif  kəsilişlər  uzərində 
müşahidə  etmək  olar  (şəkil  59).  Anomaliya  haqqında  tam  məlumat 
almaq  üçün  iki  qidalaycı  qurğudan  istifadə  olunur  AB  A

  B

    (AA

 
MN  BB

).  Hər  bir  nöqtə  üçün 

f
-in  iki  qiyməti  təyin  olunur,  bu 
qiymətlər müxtəlif dərinliklərə uyğundur. 59-cı şəkildən görüunür ki, 

f
  -in  qrafikində  AB  elektrodları  arasında  məsafə  artdıqca  anomal-
iyanı yaradan səbəb aydınlaşır. 
 
 
Şək. 60
 
Dairəvi profilləmə. 
a– qurğunun nöqtələrdə yerləşdirilməsi; b-

f
 –in polyar diaqramı. 
 
Ellipsin  uzun  oxu  cərəyan  xətlərinin  maksimum  yığıldığı,  yəni 
çatların üstünlük təşkil etdiyi istiqaməti, yaxud da süxurun şistliyinin 
üstünlük təşkil etdiyi istiqaməti göstərir.
 Kükürdləşmiş süxurlar, 6-filiz 
yataqları. 
Süxurların  çatlığının  istiqamətinin  öyrənilməsi  üçün    dairəvi 
profilləmə  işləri  aparırlar. 

f1
  A
1
  MN  B


f2
  A

MNB
2
  qurğusu  ilə  
pro 
 filin hər məntəqəsində 

f
 –in bir yox bir neçə qiymətini təyin  
edirlər və s. (Şəkil 60 a). Sonra profildə elektrodları 


-in ölçmə isti-
qamətindən  əks  istiqamətə  keçirərək  (Şəkil  60  b)  əks  (sahə) 


 
181 
qiymətlər  alırlar.  Əgər  anizatropiya  yoxdursa,  diaqram  dairə 
formasında olur, anizatropiya olan ərazilərin üzərində ellipis formalı 
fiqur alınır. 
 
Bir  neçə  üsulu  uyğunlaşdırıb  profil  alma  (KEP).  Kombinə 
edilmiş  profilləmə  kəskin  duşən  yaxşı  keçiricilikli  xususilə  filiz  və 
yaxud  damar  tipli  keçiricili  cismləri  izləmək  üçün  istifadə  edilir 
(şəkil 61a). 
Kombinə  edilmiş  qurğular  vasitəsilə  profilləmə  iki  qarşılıqlı 
simmetrik  olmayan  üç  elektrodlu  qurğudan  (AMN  və  BMN),  bir 
ümumi  qidalandırıçı  xətdən  S,  ibarət  mərkəzdən  MN-ə 
perpendikulyar istiqamətdə uzaq bir məsafəyə (adətən bu məsafə 10-
15  AO,  yəni  sonsuzluğa  qədər)  qədər  aparılan  qurğudur.  MN 
elektrodları arasında olan potensiallar fərqini hər məntəqədə iki dəfə 
ölcürlər:  Birinçi  ölçmə  AS  xəttindəki  cərəyanı  ölçməklə  (düz 
istiqəmətli  qurğu  AMNS),  digəri  isə  BS  xəttində  olan  cərəyanı 
ölçməklə (əks istiqamətli qurğu AMNS). 
Bu  imkan  verir  ki,  hər  bir  məntəqə  üçün 

f
  –in    iki  qiymətini 
təyin  etməyə  imkan  verir  və  profil  boyu 

f
  –in    iki  qrafiki  qurulur 
(şəkil 61b). Profilləmənin köməyi ilə yüksək müqavimətli 

 mühitdə 
yerləşmiş az qalınlığa malik olan kəskin duşən yaxşı keçiriçi xususi 
müqaviməti 

0
  olan  layın  xususiyyətlərinə  baxaq.  Qurğu  anomaliya 
yaradan  laydan  uzaqlaşdıqda    anomaliyanı  özündə  yerləşdirən 
bircinsli  mühitdə 

fAMNS
    və 

fAMNS
    bərabər    olur.  Qurğunu  laya 
yaxınlaşdırdıqça  soldan  cərəyan  keçiriçi  cismlər  vasitəsilə  S 
elektroduna  axmağa  başlayaçaq.  Belə  olan  halda  əgər  cərəyan  A 
nöqtəisndən  buraxılırsa  MN  elektrodları  yaxınlığında  cərəyanın 
sıxlığı artacaqdır. Cərəyan B nöqtəisndən buraxıldıqda isə azalmağa 
başlayacaq.  Cərəyan  şiddəti  nə  qədar  çox  olsa, 

U  bir  o  qədər  də  
çox olar, eyni zamanda 

f
  də bir o qədər çox olur. Beləliklə, laydan 
solda 

fAMNS
 

fAMNS
  sağda isə 

fAMNS
 < 

fAMNS 
-dir. Onda qurğunun  
mərkəzini  layın  üstündə  yerləşdirmiş  olacaq  və 

fAMNS
    və 

fAMNS
 
bərabər  olaçaq  (şəkil  61b,v-yə  bax).  Ölçmələrdən  alınan  qiymətlər-
dən  qrafik  qurmuş  olsaq, 

fAMNS
    və 

fAMNS
  əyrilərinin  layın 


Yüklə 2,8 Kb.

Dostları ilə paylaş:
1   ...   49   50   51   52   53   54   55   56   ...   100




Verilənlər bazası müəlliflik hüququ ilə müdafiə olunur ©genderi.org 2024
rəhbərliyinə müraciət

    Ana səhifə