Tempus-jpcr: anpassung des lehrbetriebs an den bologna prozessim ingenieurstudium f

45 
 
-
 
yeni  universal  kompyuter  cihazları  ailəsinin  işlənməsi; 
bunların  içərisində  cihazın  və  ölçmələrin  xarak-
teristikalarının 
dəqiqliyini 
qiymətləndirmə 
və 
təqdimetmə bloku olan cihazları qeyd etmək olar; 
-
 
tədris  təyinatlı  virtual  sistemlərin  –  praktikumların  və 
trenajerlərin,  qurğuların  adekvat  modelləri  əsasında 
qurulmuş  və  seriya  ilə  buraxılan  cihazların  elektron 
kataloqlarının və təlimatlarının yaradılması. 
 
 
3.  ÖLÇMƏ  SİSTEMLƏRİ 
 
3.1. Ölçmə sistemlərinin struktur sxemləri 
Ölçmə  sistemlərinə  ölçmə  funksiyası  üstünlük  təşkil 
edən İÖS –ləri aiddir.Bu sistemlərdə emal və yadda saxlama 
funksiyaları  çox  azdır  və  yaxud  heç  yoxdur.Ölçmə 
sisteminin (ÖS) girişinə zamana görə dəyişən və (və yaxud) 
fəzada  paylanmış  kəmiyyətlər  çoxluğu  daxil  olur.  Bu 
sistemin  çıxışında  isə  ölçmə  nəticələri  adlı  rəqəmlər  və  ya 
ölçülən  kəmiyyətlərin    nisbəti  şəklində  alınır.Bu  cür 
sistemlər birbaşa, dolayı, birgə və müştərək ölçmələri yerinə 
yetirə  bilər.Birbaşa  ölçmələri  yerinə  yetirən  ÖS-ləri  daha 
çox yayılmışdır. 
 
Bütün  ÖS-ləri  üçün  aşağıdakı  elementlərin  olması 
xarakterikdir:  ilkin  ölçmə  çeviriciləri  (onlar  vericilər  də 
adlanır)  (V),  müqayisə  elementləri  (ME),  ölçülər  (Ö), 
nəticələri  vermə  elementləri  (NV).Qeyd  olunan  elementlər 
ÖS-lərinin  qurulmasının  əsasını  təşkil  edir.ÖS-lərinin 
strukturunda  olan  elementlərin  növündən  və  sayından  asılı 
olaraq onlar aşağıdakı ÖS növlərinə bölünürlər. 

---

46 
 
 
Çoxkanallı  ÖS  ölçmə  sistemlərinin  ən  çox  yayılan  
növlərindəndir  və  onun  hər  bir  kanalı  elementlərin  tam 
yığımından  təskil  olunur  (səkil  3.1).Çoxkanallı  ÖS-ləri 
böyük  etibarlılığa,  ölçmə  nəticələri  eyni  vaxtda  alındıqda 
yüksək  cəldişləmə  qabiliyyətinə,ölçülən  kəmiyyətlər  üçün 
fərdi  ölçmə  vasitələrinin    seçilməsi  imkanlarına  malikdirlər 
ki,bu  da  bəzi  hallarda  siqnalların  unifikasiya  zərurətini 
aradan  qaldırır.Bu  sistemlərin  əsas  nöqsan  cəhəti    onların 
mürəkkəb və baha olmasıdır. 
 
Şəkil 3.1. Çoxkanallı ölçmə sisteminin struktur sxemi 
Skanlayıcı  ölçmə  sistemləri  kəmiyyətlər  çoxluğunu 
zamana  görə  ardıcıl  olaraq  bir  kanalın  köməyi  ilə  ölçməyə 
imkan  verir  ,bir  elementlər  yığımından  və  skanlayıcı  qurğu 
(SQ) adlanan qurğudan təşkil olunur (şəkil 3.2). Skanlayıcı 
qurğu  baxılan  halda  skanlayıcı  verici  adlanan  vericinin  fə-
zada    yerini  dəyişir;  özü  də  bu  vericinin  hərəkət 
trayektoriyası 
qabaqcadan 
proqramlaşdırıla 
(passiv 
skanlaşdırma)  və  yaxud  skanlaşdırma  prosesində  alınan 
informasiyadan  asılı  olaraq  dəyişdirilə  bilər  (aktiv 
skanlaşdırma). 

---

47 
 
 
Şəkil 3.2. Skanlayıcı ölçmə sisteminin struktur 
sxemi 
 
Skanlayıcı  ÖS  ölçülən  kəmiyyət  fəzada  paylanmış 
halda 
olduqda 
istifadə 
olunur. 
Parametrik 
sahələr 
(temperatur,  təzyiq,  mexaniki  gərginlik  və  s.)  tədqiq 
olunarkən  belə  sistemlər  verilən    nöqtələrdə    sahə  
parametrlərini  kəmiyyətcə  qiymətləndirməyə  imkan  verir. 
Bəzi  hallarda  skanlayıcı  ÖS-in  köməyi  ilə  tədqiq  olunan 
sahələrin  ekstremal  qiymətlərini  və  yaxud  parametrlərin 
eyni  qiymətlərinin  yerləşdiyi  yeri  təyin  etmək  mümkündür. 
Bu  sistemlərin  nöqsan  cəhəti  nisbətən  aşağı        cəldişləmə 
qabiliyyətidir  ki,  buna  da  səbəb  bütün  ölçülən  kəmiyyətlər 
üçün ölçmə əməliyyatının ardıcıl yerinə yetirilməsidir. 
Ümumi  ölçülü  ÖS    məlum  (açılış)  kəmiyyətinin 
dəyişməsinin  bir  tsikli  ərzində  bütün  ölçülən  kəmiyyətlərlə 
müqayicə  olunmasına,  yəni  kommutasiya  qovşaqlarından 
istifadə etmədən kəmiyyətlər çoxluğunu təyin etməyə imkan 
verir.Bu  sistemlərin  hər  bir  ölçmə  kanalı    V,  ME,  NV 
elementlərindən  və  bütün  kanallar  üçün  eyni  olan    Ö  
elementindən təşkil olunur (şəkil 3.3).Belə  sistemləri bəzən 
açılışla müvazinətlənən sistemlər də adlandırırlar. 

---

48 
 
 
Şəkil 3.3. Ümumi ölçülü  ölçmə sisteminin struktur sxemi 
Adətən  belə  sistemlərdə  ölçülən    x    kəmiyyəti  xətti 
dəyişən    x
k
    kəmiyyəti  ilə  müqayisə  olunur.  Əgər  açılışın 
başlanğıc anını  və  x = x
k
   bərabərliyi anını təsbit etsək, x = 
x
k
      bərabərliyi  anında    x
k
  kəmiyyətinə  mütənasib  olan    t
x
  
intervalını formalaşdırmaq olar. 
Əgər  ölçülən  kəmiyyətlər  pilləvari  dəyişən    x
k
  
kəmiyyəti  ilə  müqayisə  olunarsa,ölçmə  nəticəsinin  rəqəm 
formasında alınması xeyli sadələşər. 
 
Ümumi ölçülü ÖS  paralel təsirli ÖS –lə müqayicədə 
az  elementlərdən  təşkil  olunur  və  fərdi    NV  elementləri 
olduqda  praktiki  olaraq  həmin  cəldişləməni  təmin  edə 
bilərlər.Belə 
sistemlərin 
nöqsan 
cəhəti 
müqayisə 
elementlərinin  sayının  çox  olmasıdır  (bu  elementlərin  sayı 
ölçülən  kəmiyyətlərin  sayına  bərabərdir).Aşağı  səviyyəli 
siqnalların ölçülməsində müqayisə elementləri, adətən, xeyli 
mürəkkəbləşir. 
 
Çoxnöqtəli  ölçmə  sistemləri  çoxlu  sayda  ölçülən 
kəmiyyətləri  olan  mürəkkəb  obyektlərin  tədqiqində  istifadə 
olunur.Belə  sistemlərdə  ölçmə  kanallarının  sayı  bir  neçə 

---