Microsoft Word Elsever m kitab doc

 
59
Bu qiymətlər, eksperimental nəticələri kompyuter texno-
logiyalarına müvafiq, xüsusi elektron-hesablama maşınlarında 
işlədikdən sonra qazanılan məlumatlara əsasən əldə edilmişdir.  
 
2.2. Spektral analiz xətalarının mənbələri 
 
Bütün ölçmələr zamanı  bəzi səhvlərin, xətaların buraxıl-
ması (kənaraçıxmaların baş verməsi) qaçılmaz haldır. X
0
 həqiqi 
qiymətin ölçülməsinin xətası X
i
 ölçülmə nəticələrinin və həqiqi 
qiymətlərin fərqi kimi şərtlənir, yəni:  
 
                            
0
X
X
i
i



                                    (19) 
 
burada: X
i
 – 
müxtəlif qiymətlərə malik ola bilər, yəni X
1
, 
X
2
, ... , X
n
. 
 
Ölçülmə  xətasının ölçülən kəmiyyətin həqiqi qiymətinə 
olan nisbəti ölçmənin nisbi xətası adlanır. 
 
                      
0
X
i



 və ya 
(%)
100
0



X
i

            (20) 
 
İki əsas xəta qrupu biri-birindən fərqləndirilir: 
1. Sistemli  xətalar; 
2. Təsadüfi xətalar. 
Belə təsnifatlaşdırmada yanlışlıqlar və cihazla bacarıqsız 
və ya ehtiyatsız işləmə  nəticəsində meydana çıxan kobud 
xətaları nəzərə almırlar.  
S i s t e m l i   x ə t a l a r,
 bir qayda olaraq, təkrar 
ölçmələr zamanı meydana çıxır. Bu xətalar ya ölçücü cihazların 
nasazlığı ucbatından, ya da ölçmə metodunun qeyri-dəqiqliyi 
səbəbindən əmələ gəlir. Belə ki, cihazın əqrəbinin ilkin vəziy-
yətinin sıfır nöqtəsinə nəzərən yerini dəyişməsi zamanı sistemli 
xəta alına bilər, bu xətanı yalnız uyğun düzəliş etməklə aradan 

---

 
60
qaldırmaq mümkündür. Bunun üçün düzəldilməyən cihazın 
göstəricilərini düzgün işləyən cihazın göstəriciləri ilə müqayisə 
etmək lazımdır. 
Ölçmə metodunun qeyri-dəqiqliyi səbəbindən meydana 
çıxan sistemli xətalar iddia olunan kəmiyyəti təyin edən metod 
və ya riyazi düsturun dəqiq analiz olunması nəticəsində aşkar-
lanır və hesablanır. Sistemli xətaların qiyməti həmişə müəyyən 
işarəyə malik olur, yəni ölçmə  nəticələrinə birtərəfli təsir 
göstərir. 
T ə s a d ü f i   x ə t a l a r
   həm subyektiv və həm də 
obyektiv olmaqla müxtəlif səbəblər nəticəsində  əmələ  gələ 
bilər. Şəbəkədə cərəyanın və ya ölçmə prosesində temperaturun 
dəyişməsi, cihazın  əlverişli olmayan vəziyyətdə yerləşməsi, 
ölçmə şkalasının yaxşı işıqlandırılmaması, cihazla işləyən işçi-
nin bacarıq səviyyəsi və bu kimi digər hallar təsadüfi xətaların 
əmələ gəlməsi üçün zəmin yarada bilər. Məsələn, cihazı qida-
landıran dəyişən cərəyanın azalıb-çoxalması elektrik ölçmələri 
zamanı çox vaxt cihazın “s ı f ı r   d r e y f i” kimi adlandırılan 
xətanın əmələ gəlməsinə səbəb olur. 
Başvermə  səbəblərinin müxtəlif xarakterli olması  nəti-
cəsində təsadüfi xətalar müxtəlif işarələrə (müsbət və ya mənfi) 
malik ola bilər, yəni onlar ölçülən kəmiyyətlərin əhəmiyyətini 
həm azalda və həm də çoxalda bilər.  
Bu növ xətalar, təsadüfi hallar üçün müəyyən edilən eh-
timallar nəzəriyyəsi qanunlarına tabe olur, yəni belə  xətaların 
izahı adı çəkilən qanunlarla şərtləndirilir. Lakin təsadüfi xətalar 
nəzəriyyəsinin nəticələri yalnız dəqiqliklə keçirilən çoxsaylı 
ölçmələr zamanı doğru olur. Baxmayaraq ki, hər bir konkret 
halda ölçmələrin tələb edilən sayı adı çəkilən nəzəriyyənin kö-
məyi ilə müəyyənləşdirilə bilər, praktikada çox vaxt 5-10 
ölçmə aparmaqla yekun nəticə çıxarmağa cəhd göstərilir.  
Aşağıda optiki sıxlıq kəmiyyətinin spektral ölçmələrinə 
tətbiq olunan xətalar nəzəriyyəsinin  əsas qaydalarına diqqət 
yetirilir.  

---

 
61
Ölçmə metodunun xətasını tapmaq məqsədilə  məlum 
düsturdan istifadə edərək   m ü t l ə q   və   n i s b i   xətaların 
qiyməti üçün köməkçi düsturu təyin etmək vacibdir. Sonra bu 
sonuncu düsturda ölçülən kəmiyyətlərin  ədədi qiymətlərinin 
yerinə onların təqribi (mütləq qiymətlərə yaxın olan) qiymət-
lərini yazmaq lazımdır. Ölçməni başlayanadək ölçmə metodu 
xətalarının belə  təyinatı  tədqiqatçıya işi aparmaq məqsədilə 
onu qane edən dəqiqliyi təmin etmək üçün cihazları, eləcə  də 
verilən dəqiqliyi  əldə etmək üçün lazım olan ölçmə dia-
pazonunu seçməyə kömək edir. 
M i s a l.
  Spektrofotometrik ölçmələr aparılarkən ölçmə 
metodunun xətaları həm cihazın göstəricisinin, həm də kalibr-
ləyici qrafikə  əsasən ölçmə  nəticələrinin xətaları  səbəbindən 
əmələ gələ bilər.  Ber qanununa əsasən fotometrik sistem üçün 
bu asılılığı aşağıdakı şəkildə ifadə etmək olar: 
 
                              
b
c
a
l
D



                                (21) 
 
burada: D – müqayisə məhlulunun optiki sıxlığı; 
l – 
şüanın cihaz küvetindəki optiki yolunun 
qalınlığı; 
a – 
kalibrləyici qrafikin meyilliliyi 
 
C
f
l
D 
; 
C – 
işığı udan maddənin məhluldakı konsen-
trasiyası; 
b – 
l
D
 
oxunda kəsilərək ayrılan parça. 
 
Konsentrasiyanın təyin olunmasının maksimum mümkün 
xətasını xarakterizə edən ifadəni almaq üçün (21) ifadəsini 
aşağıdakı şəkildə yazaq: 
 

---