Е. S. C ə f ə r o V f I z I k a
Yüklə 5,01 Kb. Pdf görüntüsü
|
- Bu səhifədəki naviqasiya:
- Nazik təbəqələrdə interferensiya
- İnterferensiyanın bəzi tətbiqləri
- İşığın difraksiyası
- Şəkil 327. üzərində interferensiya mənzərəsi yaratması bu halda işığın dar deşikdən keçərkən difraksiya etməsinin sübutu olmuşdur. Difraksiya qəfəsi
- Şəkil 328. , şəffaf hissənin eni isə ilə işarə olunur. Difraksiya qəfəsinin şəffaf və qeyri-şəffaf hissələrinin enlərinin cəmi
266 müddət işığın interferensiyasını müşahidə etmək mümkün olmadığından onun təbiətini aydınlaşdırmaq mümkün olmamışdır. Yada salaq ki, maksimumlar və minimumlar şərtinin yaranması üçün toplanan işıq dalğaları koherent olmalıdır, yəni onlar eyni dalğa uzunluğuna (eyni tezliyə) və sabit fazalar fərqinə malik olmalıdırlar. Prinsipcə, xüsusi işıq süzgəclərindən istifadə etməklə, eyni dalğa uzunluğuna malik işıq dəstələri yaratmaq mümkündür, lakin iki müxtəlif mənbə üçün fazalar fərqinin sabitliyini təmin etmək mümkün deyildir. Nazik təbəqələrdə interferensiya. Dediklərimizə baxmayaraq, işığın interferensiyasını müşahidə etmək mümkün olmuşdur. Düzdür, bunun çoxdan və hər kəs tərəfindən müşahidə olunmasına baxmayaraq, interferensiya olması sonradan aydın olmuşdur. Belə ki, sabun köpüyünün, yaş asfalt üzərinə yayılmış nazik neft, kerosin təbəqəsinin əlvan rəngə boyanması məhz işığın interferensiyasının nəticəsidir. Tomas Yunq nazik təbəqələrin əlvan rəngə boyanmasının səbəbini təbəqənin üst və alt səthlərindən qayıdan işıq dəstəsinin toplanaraq, maksimumlar və minimumlar əmələ gətirməsi ilə izah edir (şəkil 325). Təbəqə üzərinə düşən işıq eyni mənbədən gəldiyindən onların koherentliyi təmin olunur və bu Şəkil 325. zaman təbəqənin qalınlığının iki misli qədər yollar fərqi yaranır ki, bu yollar fərqinin də tam sayda dalğa uzunluğuna və yaxud da tək sayda yarımdalğa uzunluğuna bərabər olmasından asılı olaraq, maksimumlar və minimumlar yaranır. İnterferensiyanın bəzi tətbiqləri. İş prinsipi interferensiya hadisəsinə əsaslanmış xüsusi cihazlar – interferometrlər mövcuddur ki, onların da köməyi ilə işığın dalğa uzunluğunu, bəzi mühitlərin sındırma əmsallarını təyin etmək mümkündür. İşığın interferensiya etməsinin əsasında səthlərin cilalanma (hamar olma) dərəcəsini müəyyənləşdirmək mümkündür. Bu məqsədlə nümunənin səthi ilə ideal hamar səthə malik etalon səth arasında pazşəkilli nazik hava təbəqəsi yaradılır. Səth nümunələrin üzərində interferensiya mənzərəsi alınanadək 267 cilananır. Bu üsulla səthlərin kələ - kötürlüyünü - lik həddə qədər hamarlamaq mümkündür. İnterferensiyanın ikinci tətbiq sahəsi optikanın şəffaflaşdırılmasıdır. Məlum olduğu kimi, optik cihazlar çoxlu sayda linzalardan, prizmalardan təşkil olunmuş olur. İşıq belə cihazlardan keçərkən çoxlu sayda səthlərdən əks olunur və ona görə də cihazdan keçən işığın intensivliyi azalır və nəticədə xəyal az işıqlanmış olur. Bu vəziyyətdən çıxış yolu olaraq optikanın şəffaflaşdırılması üsulundan istifadə edilir. Üsulun mahiyyəti ondan ibarətdir ki, əks olunan enerjini azaltmaq məqsədi ilə linzanın səthinə sındırma əmsalı linzanın sındırma əmsalına nisbətən kiçik olan nazik şəffaf təbəqə çəkilir (şəkil 326). Bu zaman nazik təbəqənin alt və üst səthlərindən qayıdan şüaların interferensiyası maksimumlar və minimumlar yaratmalıdır. Təbəqəyə elə qalınlıq verilir ki, o qalınlıq minimumlar şərtini ödəsin, yəni qayıdan şüalar bir-birini zəiflətsin və beləliklə də qayıdan işığın intensivliyi azalsın. Şəkildən göründüyü kimi, nazik təbəqənin alt və üst səthlərindən qayıdan şüaların yollar fərqi təbəqənin qalınlığının iki mislinə bərabər olacaq. Əgər təbəqənin qalınlığı - dırsa, onda Şəkil 326. şüaların yollar fərqi olar. Minimumlar şərtinin – yollar fərqinin yarımdalğa uzunluğuna ( ) və ya yarımdalğanın tək sayda misillərinin hasilinə ( ) bərabər olduğunu və mühit daxilində dalğa uzunluğunun (bu halda nazik təbəqə daxilində) (burada - işığın vakuumda dalğa uzunluğu, isə- mühitin sındırma əmsalıdır) olduğunu nəzərə almaqla, optikanın şəffaflaşdırılması üçün linzanın səthinə çəkilmiş nazik təbəqənin qalınlıq düsturunu almış olarıq: . İşığın difraksiyası. İşıq dalğavari proses olduğundan o, həm də difraksiya etməlidir, yəni əyilərək maneənin arxasına keçməlidir. İşığın interferensiyası kimi, onun 268 difraksiyasını da uzun müddət müşahidə etmək mümkün olmamışdır. Bunun səbəbi işığın dalğa uzunluğunun çox kiçik olmasıdır, belə ki, məlum olduğu kimi, dalğanın difraksiya edə bilməsi üçün maneənin ölçüsü dalğa uzunluğuna bərabər və ya ondan kiçik olmalıdır. İşığın dalğa uzunluğu intervalında dəyişdiyindən, onun difraksiya edə biləcəyi maneənin ölçüsü, aydın olur ki, çox kiçik olmalıdır. Nazik təbəqələrdə işığın interferensiyasının ilk dəfə düzgün izahını verən Tomas Yunq, həm də işığın difraksiyasını müşahidə etməyə imkan verən təcrübə apara bilmişdir. O, üç müxtəlif qeyri - şəffaf ekranı şəkil 327 - də göstərilən formada yerləşdirmiş və birinci ekranda bir, ikinci ekranda isə iki çox kiçik ölçülü deşik açmışdır. Birinci ekranın üzərinə düşən işıq dəstəsi difraksiya etməklə genişlənərək ikinci ekrandakı deşiklərin üzərinə düşmüşdür və yenidən həmin deşiklərdə difraksiya hesabına bir işıq dəstəsindən iki koherent işıq dəstəsi yaranmışdır. Yaranmış işıq dəstələrinin üçüncü ekranın Şəkil 327. üzərində interferensiya mənzərəsi yaratması bu halda işığın dar deşikdən keçərkən difraksiya etməsinin sübutu olmuşdur. Difraksiya qəfəsi. İşığın difraksiyasını müşahidə etmək üçün difraksiya qəfəsi adlanan cihazlardan istifadə olunur. Ən sadə difraksiya qəfəsi üzərində dar yarıqlar açılmış qeyri - şəffaf lövhə ola bilər. Bu zaman yarıqların sayı hər – də minlərlə olmalıdır (şəkil 328). Başqa növ difraksiya qəfəsi almaq üçün şəffaf lövhənin üzərində yenə də hər – də minlərlə olmaq şərti ilə cızıqlar çəkmək lazımdır. Aydın olur ki, hər bir difraksiya qəfəsinin təkrarlanan şəffaf və qeyri - şəffaf hissələri olur. Qeyri -şəffaf hissənin eni Şəkil 328. , şəffaf hissənin eni isə ilə işarə olunur. Difraksiya qəfəsinin şəffaf və qeyri-şəffaf hissələrinin enlərinin cəmi ilə Yüklə 5,01 Kb. Dostları ilə paylaş:
|