3 = 4 o.
5
Kəmiyyət, ölçü və cihazların göstərişlərini bəzən
2
dispersiya (D(x)= O ) ilə qiymətləndirirlər (3.14)-dən
X 2
D(x) = o2 = J x 2 ydx
Bu ifadə göstərir kİ, dispersiya təsadüf xətaların paylanma əyrisi altındaKı sahənin İKİnci tərtibli ətalət momentidir, yə’ni bu paylanmanı Kəmiyyətcə xaraKterizə edir. Xətalar nəzəriyyəsində daha yüKsəK tərtibli mo- mentlər istifadə edilir. ŞəKİl 3.5 - də misal Kimi paylanma funK siyalarının approKsimasiyası üçün qanunlardan
bə’ziləri göstərilmişdir.
Şəkİİ 3.5. Paylanma əyriləri: a) bərabər ehtimalı; b) üçbucaq (Simpson) qanunu; v) çox müsbət Kəmiyyətlərin (MaKsvell).
Şəkİİ 3.6 - da şKalalı ölçmə cihazının sistematİK və təsadüfi xətaları göstərilmişdir. A sis sistematİK xətaları göstərilənlərin qruplaşma mərKəzinin X orta hesabi ölçü ilə müəyyən edilən sürüşməsini, Ax;- F təsadüfi xətaları ilə səpələnmənin özünü xaraKterizə edir.
SistematİK xətaların sıfra yaxın olması ölçmə vasitəsinin düzgünlüyünü, onun təsadüfi xətalarının sıfra yaxın olması ölçmə vasitəsinin cöstərişlərinin yığcamlığını xaraKterizə edirlər.
Dostları ilə paylaş: |
